HITEC målemikroskop QZW 1, 250 × 170 mm

HITEC Messtechnik Messmikroskop QZW 1 M3 Software

Betingelse: meget god (brugt), Funktionalitet: fuldt funktionsdygtig, Vi tilbyder her et topmålemikroskop QZW 1 fra HITEC Type: 400 x 250 mm M3-software: automatisk kantgenkendelse, tolerancetest i henhold til DIN/ISO, elementvisning med toleranceindtastning, komponentoversigt med målangivelser, live-billedvisning under måling, ekstra billedlagring til dokumentation. Dell touch-PC med Windows 10 (kan opdateres til 11) Kalibreringscertifikat gyldigt til 31.07.2025 MÅLEOMRÅDE X-, Y-AKSE: 400 x 250 mm LÆNGDEMÅLEAFVIGELSE: 4 µm + L/100 (L i mm) MÅLEOMRÅDE Z-AKSE: 150 mm / valgfrit 350 mm MÅLESYSTEM Z-AKSE: valgfrit KAMERA: USB 3.0, 25 billeder/s, 2,0 megapixel OBJEKTIV: fast objektiv / valgfrit zoomobjektiv 0,7x – 4,5x (manuel/motoriseret) Gusdpfx Aoxwb Dpofksi FORSTØRRELSE: 40x hhv. 35x - 225x (zoomobjektiv) BILDEUDSNIT: 8 mm hhv. 9 mm - 1,5 mm (zoomobjektiv) OPLYSNING: 4-sektions LED-ringlys (valgfrit koaksialt oplysning) GENNEMLYSNING: LED (valgfrit telecentrisk) POSITIONERINGSASSISTANCE: laserpointer BORDBELASTNING: maks. 20 kg LEVERINGSOMFANG: QZW1, 23" touchskærm-PC, M3-software, kalibreringscertifikat, brugervejledning Anvendelsesmuligheder QZW1-serien støtter dig ved højpræcise, repeterbare målinger af komplekse emner uanset materialetype. Med et omfattende udvalg af muligheder såsom zoomobjektiv, forskellige Z-aksens længder og forskellige målebord-størrelser, tilbyder QZW1 alle muligheder for tilpassede målekrav til dine enkelte komponenter.