Målesystem

Leica EM TXP

EM TXP er et unikt apparat, der er udviklet til præcis præparation af en bred vifte af materialer og materialekombinationer med lokalt minimale fejl. Særligt velegnet til savning, fræsning, slibning samt polering af krævende, små og uhåndterlige prøver, hvor arbejdsprocessen overvåges ved hjælp af et stereomikroskop, og hvor den endelige undersøgelse i rasterelektronmikroskop eller lysmikroskop udføres uden afbrydelse af de enkelte arbejdstrin.

EM TXP giver desuden en meget god mulighed for forpræparering af materialer, hvor der skal udføres en skråsnitpræparation med en ionpolerer.

Leveres med følgende tilbehør:
1 stk. Stereomikroskop M80 komplet
1 stk. Krydsplade til M80, 12 mm
1 stk. Bevægelig objektivadapter til M80
1 stk. Vinkeljusteringsadapter
1 stk. Diamantskæreskive
1 stk. Diamantskæreskive
1 stk. Specialfræser med 6 mm Ø diamant-skær
1 stk. Specialfræser med 12 mm Ø diamant-skær
1 stk. Specialfræser med 8 mm Ø hårdmetal (WC)-fræser
1 stk. Specialfræser med 12 mm Ø hårdmetal (WC)-fræser
5 stk. Dorn
3 stk. Holder til slibefolie
1 stk. Slibefolie 15µm, SiC, Ø 30 mm
1 stk. Slibefolie 9µm, SiC, Ø 30 mm
1 stk. Slibefolie 5µm, SiC, Ø 30 mm
3 stk. Holder til slibefolie
1 stk. Slibefolie 9µm, diamant (type U)
1 stk. Slibefolie 2µm, diamant (type U)
1 stk. Slibefolie 0,5µm, diamant (type U)
1 stk. Slibefolie 0,1µm, diamant (type LA)
3 stk. Holder til slibefolie
1 stk. Slibefolie 9µm, aluminiumoxid
1 stk. Slibefolie 3µm, aluminiumoxid
1 stk. Slibefolie 1µm, aluminiumoxid
1 stk. Slibefolie 0,3µm, aluminiumoxid
1 stk. Neopren-polereklud til slutpolering (8 stk.)
2 stk. Boks til holdere og folier
Ffodpfjytrwajx Afasw
1 stk. Holder til flade prøver 0-4 mm
1 stk. Fladpræparatholder 3-8 mm
1 stk. TXP SEM STUB holder
1 stk. Universel prøveholder

Annoncen er blevet oversat automatisk. Oversættelsesfejl kan forekomme.