Røntgendiffraktometer (XRD)PANalytical
X’Pert PRO MPD
Røntgendiffraktometer (XRD)
PANalytical
X’Pert PRO MPD
Fast pris plus moms
13.500 €
Stand
Brugt
Beliggenhed
Borken 

Vis billeder
Vis kort
Oplysninger om maskinen
Pris og placering
Fast pris plus moms
13.500 €
- Beliggenhed:
- Einsteinstraße 8a, 46325 Borken, Deutschland

Ring op
Detaljer om tilbuddet
- Annonce-ID:
- A195-31791
- Referencenummer:
- 24688
- Opdatering:
- sidst den 10.07.2025
Beskrivelse
PANalytical X’Pert PRO MPD røntgendiffraktometer (XRD)
Udtræk fra servicerapport:
Enhed: PANalytical X’Pert PRO MPD
Dato: 07.07.2021
Udførte arbejder:
- Genopstilling og ibrugtagning af systemet
- Tilslutning af eksterne forsyningsledninger
- Opvarmningsfase
- Fuld justering af goniometer og øvrige komponenter
- Udførelse af vedligeholdelsesarbejde inkl. udskiftning af defekte dele
Benytte reservedele:
L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATTERI, NI-CD
Blæser til X-CELERATOR UNIT FAN
Filter, vand
Motor PW3050
(”Enheden blev ikke testet hos os”)
X’Pert PRO MPD er et meget alsidigt og kraftfuldt røntgendiffraktometer (XRD) til strukturel karakterisering af krystallinske materialer – ideel både til grundforskning og rutineanvendelser i industri og universiteter. Takket være det modulære design, hurtig detektor, temperatur- og atmosfærekontrol er det velegnet til både rutinemæssige analyser og komplekse in-situ-eksperimenter.
Vigtige funktioner:
Fleksible målbare geometrityper:
Refleksion i Bragg-Brentano (θ–2θ) mode
Transmissionsgeometri for pulver i kapillærer
Valgfrit også SAXS (Small-Angle X-ray Scattering) til nanostrukturer
Strålingskilde og detektorer:
Typisk kobber-anode (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å)
X’Celerator detektor (1D, ultrahurtig) til parallel datalæsning
Modulopbygget system med PreFIX-teknologi:
Hurtigt skift af optik og prøveborde uden rekalibrering
In-situ målinger ved høje temperaturer:
Målinger op til ca. 1200°C muligt
Kontrolleret atmosfære: luft, nitrogen, ilt (reducerende begrænset)
Typiske anvendelser:
Faseanalyse og kvantitativ Rietveld-evaluering
Bestemmelse af krystallitstørrelse, mikrodeformation, egenspændinger
In-situ-undersøgelse af faseovergange, oxidation, krystallisering m.m.
SAXS-målinger til analyse af nanopartikler og porestrukturer
Bredt prøvespektrum: pulver, tyndfilm, keramik, farmaceutiske materialer, katalysatorer m.m.
Tekniske data (typisk)
Egenskab og specifikation
Vinkelområde (2θ): ca. 0,5° til 150°
Trinbredde ned til 0,002° eller finere
Goniometer vertikal, 0–0, radius ca. 240 mm
Temperaturområde: stuetemperatur op til ca. 1200°C
Atmosfære: luft, N₂, O₂ (reducerende begrænset)
Detektorer: X’Celerator (1D), proportionaltæller
Udbredelse & anvendelsessteder:
X’Pert PRO MPD bruges verden over, bl.a. på:
Universiteter (ETH Zürich, TU Dresden, Uni Wien)
Forskningsinstitutter (fx Max-Planck-Institutter, ICN2, IS2M)
Dksdpewycatofx Ag Ssi
Industri (fx materialeudvikling, pharma, kemi)
Stand: brugt / used
Leveringsomfang: (se billede)
(Rettelser og fejl i tekniske data forbeholdes!)
Yderligere spørgsmål besvares gerne på telefon.
Annoncen er blevet oversat automatisk. Oversættelsesfejl kan forekomme.
Udtræk fra servicerapport:
Enhed: PANalytical X’Pert PRO MPD
Dato: 07.07.2021
Udførte arbejder:
- Genopstilling og ibrugtagning af systemet
- Tilslutning af eksterne forsyningsledninger
- Opvarmningsfase
- Fuld justering af goniometer og øvrige komponenter
- Udførelse af vedligeholdelsesarbejde inkl. udskiftning af defekte dele
Benytte reservedele:
L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATTERI, NI-CD
Blæser til X-CELERATOR UNIT FAN
Filter, vand
Motor PW3050
(”Enheden blev ikke testet hos os”)
X’Pert PRO MPD er et meget alsidigt og kraftfuldt røntgendiffraktometer (XRD) til strukturel karakterisering af krystallinske materialer – ideel både til grundforskning og rutineanvendelser i industri og universiteter. Takket være det modulære design, hurtig detektor, temperatur- og atmosfærekontrol er det velegnet til både rutinemæssige analyser og komplekse in-situ-eksperimenter.
Vigtige funktioner:
Fleksible målbare geometrityper:
Refleksion i Bragg-Brentano (θ–2θ) mode
Transmissionsgeometri for pulver i kapillærer
Valgfrit også SAXS (Small-Angle X-ray Scattering) til nanostrukturer
Strålingskilde og detektorer:
Typisk kobber-anode (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å)
X’Celerator detektor (1D, ultrahurtig) til parallel datalæsning
Modulopbygget system med PreFIX-teknologi:
Hurtigt skift af optik og prøveborde uden rekalibrering
In-situ målinger ved høje temperaturer:
Målinger op til ca. 1200°C muligt
Kontrolleret atmosfære: luft, nitrogen, ilt (reducerende begrænset)
Typiske anvendelser:
Faseanalyse og kvantitativ Rietveld-evaluering
Bestemmelse af krystallitstørrelse, mikrodeformation, egenspændinger
In-situ-undersøgelse af faseovergange, oxidation, krystallisering m.m.
SAXS-målinger til analyse af nanopartikler og porestrukturer
Bredt prøvespektrum: pulver, tyndfilm, keramik, farmaceutiske materialer, katalysatorer m.m.
Tekniske data (typisk)
Egenskab og specifikation
Vinkelområde (2θ): ca. 0,5° til 150°
Trinbredde ned til 0,002° eller finere
Goniometer vertikal, 0–0, radius ca. 240 mm
Temperaturområde: stuetemperatur op til ca. 1200°C
Atmosfære: luft, N₂, O₂ (reducerende begrænset)
Detektorer: X’Celerator (1D), proportionaltæller
Udbredelse & anvendelsessteder:
X’Pert PRO MPD bruges verden over, bl.a. på:
Universiteter (ETH Zürich, TU Dresden, Uni Wien)
Forskningsinstitutter (fx Max-Planck-Institutter, ICN2, IS2M)
Dksdpewycatofx Ag Ssi
Industri (fx materialeudvikling, pharma, kemi)
Stand: brugt / used
Leveringsomfang: (se billede)
(Rettelser og fejl i tekniske data forbeholdes!)
Yderligere spørgsmål besvares gerne på telefon.
Annoncen er blevet oversat automatisk. Oversættelsesfejl kan forekomme.
Send anmodning
Telefon & Fax
+49 2861 ... annoncer
Du kan også være interesseret i disse annoncer.
Lille annonce
Borken
520 km
Scanningselektronmikroskop (PC-SEM)
JeolJSM-6490 Bruker XFlash Detektor
JeolJSM-6490 Bruker XFlash Detektor
Lille annonce
Freising
890 km
Rasterelektronmikroskop (bordmodel)
JEOLJCM-7000
JEOLJCM-7000
Lille annonce
Freising
890 km
Felt-emissions-scanningselektronmikroskop
JEOLJSM-IT800is
JEOLJSM-IT800is
Lille annonce
Duxford
765 km
Bruker Maldi-Tof Microflex massespektrometer
BrukerMicroflex
BrukerMicroflex
Lille annonce
Borken
520 km
Klimaprøvelokale
VötschVCS 7034-5
VötschVCS 7034-5
Lille annonce
Borken
520 km
Klimaprøvecelle med 11.000 liters (11 m³) kapacitet
CTSCW-60/11 -60°C bis +90°C
CTSCW-60/11 -60°C bis +90°C
Lille annonce
Borken
520 km
Klimatestskab +20 til +130°C, 240 l
Weiss TechnikEmissionEvent VOC/240
Weiss TechnikEmissionEvent VOC/240
Lille annonce
Duxford
765 km
Drager Accuro gasdetektor pumpe
DragerAccuro
DragerAccuro
Lille annonce
Eindhoven
598 km
Bobletester / lækagedetektorsystem
TRIO-TECH InternationalG-233F | G-203
TRIO-TECH InternationalG-233F | G-203
Din annonce er blevet slettet
Der opstod en fejl























































































































