Brugte Cameca Elektronmikroskop til salg (5)

Stand: brugt, Funktionalitet: ukontrolleret, maskine/køretøjsnummer: SX-50, Brugt Cameca SX-50 Elektron Mikrosonde Cameca SX-50 elektronmikrosonde anvendes til Elektron Probe MicroAnalysis (EPMA). Den har et 6" (tommer) prøvestadie, 3 WDX-spektrometre med flere krystaller: LiF, PET, TAP, ODPb, PC1, PC2 og PC3. Elektron probe mikroanalyse (EPMA) er generelt anerkendt som en mikroanalytisk metode, der kan billeddanne eller analysere materialer, som ikke kan observeres med den opløsning, som synlige teknikker tilbyder. Systemet leveres komplet med alle bøger, servicemanualer, software og computer. Der medfølger også mange reservedele. 1 x Leybold Trivac D16B vakuumpumpe 1 x Alcatel 2012 A vakuumpumpe 2 x integrerede turbopumper Gbsdewnb D Tjpfx Af Dot

Stand: meget god (brugt), ZEISS Type: DSM 962 Det digitaliserede raster-elektronmikroskop DSM 962 er udstyret med en integreret 4 MB billedhukommelse, en 40 MB harddisk til intern billedlagring samt drev til ekstern lagring af data og billeder. Enheden muliggør hurtig og enkel analyse af prøvers sammensætning og morfologi på overflader helt ned i sub-mikrometerområdet. Med et forstørrelsesområde fra 5x op til 300.000x kan både makro- og mikrostrukturer undersøges. Specialtilbehør kan udvide anvendelsesområdet betydeligt, så der fx kan udføres analytiske undersøgelser på mikroområder af overfladen. Enheden betjenes enten via konventionelle betjeningselementer eller via tastatur/mus (ekstraudstyr). Elektronoptik og vakuumstyring betjenes konventionelt, mens billedhukommelsens funktioner styres med tastatur eller mus (ekstraudstyr). Centralt på betjeningspanelet findes en separat informationsskærm til menunavigation. Denne brugsanvisning fungerer som en vejledning, så brugeren kan opnå de bedst mulige resultater med udstyret. Forklaringerne er holdt så enkle som muligt for også at give mindre erfarne brugere det fornødne grundlag. Godpszdthysfx Af Debt Forstørrelsesområde: 20x til 300.000x ved 7 mm arbejdsafstand Trinsekvens: 1-2-3-5-10 Minimumsforstørrelse: 5x ved 50 mm arbejdsafstand Opløsning: 4 nm – garanteret med wolframkatode ved 30 kV, 6 mm arbejdsafstand, ukippet prøve 25 nm – garanteret med wolframkatode ved 1 kV, 6 mm arbejdsafstand, ukippet prøve 3,5 nm – garanteret med optimal LaB6-katode ved 30 kV, 6 mm arbejdsafstand, ukippet prøve Leveringsomfang: (DSM 962 med tilbehør som afbilledet) Stand: brugt / used (Ændringer og fejl i de tekniske data forbeholdes!) Forespørg venligst om transportmuligheder inden køb. Yderligere spørgsmål besvarer vi gerne telefonisk.

Produktionsår: 2022, stand: næsten som ny (udstillingsmaskine), Funktionalitet: fuldt funktionsdygtig, Beskrivelse (detaljeret udstyr): o 5-akset platform o Moderne, udvidelig brugergrænseflade med EDX-integration og billedsamling o SE-detektor o Scintillator-BSE-detektor (kan trækkes tilbage) o In-lens-detektor o Lavvakuum-system med BSE-detektor (kan trækkes tilbage) o Fuldt softwareintegreret JEOL-EDX-system (60 mm²) o Strømmåling i kolonnen o Navigationskamera o Live-kamera o Betjeningspanel Gbodpfxszn Ihpe Af Dst o Skrivebord, pc med Windows-styresystem, 2 x 24" skærm, tastatur

Stand: meget god (brugt), Type: Jeol JSM-6490 Jeol JSM-6490 rasterelektronmikroskop (PC-SEM) Moderne, højopløselig digital rasterelektronmikroskop med nyudviklet elektronoptik og intuitiv, grafisk brugergrænseflade (GUI) under Microsoft Windows XP Professional. Udstyr inklusive følgende funktioner: Forstørrelsesområde: 5 X - 300.000 X Accelerationsspænding: 0,3 - 30 kV Wolfram-hårnålskatode (LaB6-katode som tilvalg) Stor fuldt motordrevet prøvebord med excentrisk tiltning, inkl. grafisk navigation på prøveholderen Enkel prøvenavigation via Click-Center-Zoom Billedfeltstyret navigation via 2 navigatorer Relativ koordinatnavigation Gem og genkald prøvepositioner Justérbar udsnitsfunktion for prøven Billedfeltkorrektion under rotation via computersstyret excentrisk rotation Billedfeltkorrektion ved tiltning via computersstyret excentrisk tiltning Beregnelse af mulig tiltvinkel baseret på prøvegeometri Automatisk fokusjustering ved bevægelse af prøven i Z-aksen Intelligente grænsekontakter for de motoriserede akser Prøvebordets bevægelsesområde: x = 125 mm y = 100 mm z = 5 til 80 mm (trinfrit) T = -10°C til +90°C R = 360°C (endeløs) Sekundære elektron detektor til højvakuumdrift Innovativ, superkonisk objektivlinse garanterer højeste billedopløsning selv ved store tiltvinkler Garanteret opløsning i SE-billedet: 3 nm ved 30 kV og 15 nm ved 1 kV Simultan live-billedfremvisning fra flere detektorer Enkel prøvenavigation via Click-Center-Zoom Effektive billedmålefunktioner Filmfunktion til optagelse af dynamiske processer Alsidig prøvekammer med talrige udvidelsesmuligheder: frie flanger, f.eks. til EDX, WDX, EBSD, katodoluminescens etc. Vedligeholdelses- og slidstærkt, støjsvagt pumpesystem bestående af forpumpe, vibrationsfri højtydende diffusionspumpe samt elektromagnetisk ventilkontrol Omfattende fejlbeskyttelse mod forkert betjening og svigt af eksterne medier Ergonomisk, højdejusterbart systembord SEM-starterkit bestående af 2 prøveholdere, værktøjssæt samt 6 reservekatoder Ekstraudstyr til rasterelektronmikroskop: Turbomolekylpumpe i stedet for standard-diffusionspumpe Ved brug af turbomolekylpumpe er der ikke længere behov for kølevand til SEM-drift. Yderligere SEM-udstyr: PC til styring af SEM inklusive TFT-skærm ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX-system EXTENDED Gsdpfezd Ufasx Af Djbt Bruker EDX-software overføres til den nye ejer efter køb! Nitrogenfri, energidispersivt røntgenanalysesystem inkl.: SDD-detektor med 127 eV eller bedre energiopløsning Påvisning af alle elementer fra bor Vibrationsfri, vedligeholdelsesfri. Peltierkølet (uden nitrogen) Pulsprocessor TFT-skærm Spektrummåling og elementidentifikation Fuldautomatisk, kvantitativ, standardfri elementanalyse Billedoptagelse Ekstrem hurtig kvalitativ Line Scan Ekstrem hurtig kvalitativ Element Mapping Datastyrings- og arkiveringssystem Rapportgenerering og resultatudskrivning Datakommunikation Installation og introduktion HyperMap Multipunktanalyse Bruker xFlash detektor (SDD) med signalbehandlingsenhed SVE III Leveringsomfang: (se fotos) Stand: brugt (Forbehold for ændringer og fejl i de angivne tekniske data!)

Produktionsår: 2024, stand: næsten som ny (udstillingsmaskine), Funktionalitet: fuldt funktionsdygtig, JCM-7000 kombinerer enkel prøve-navigation med en række avancerede autofunktioner. Et stort prøvekammer, høj opløsning og en tilkoblingsbar lavvakuumtilstand til ikke-ledende prøver gør dette desktop-SEM til et mobilt alsidighedsværktøj. Egenskaber: • SE-/BSE-detektionssystem • Forstørrelse op til x100.000, opløsning ca. 8nm • Lavvakuum tilstand til ikke-ledende prøver • Hard- og softwareintegreret EDX-system til elementkarakterisering • Live elementanalyse, live billeddannelse (inkl. 3D-billede/topografi) • Intuitiv betjening med opskrifter, autofunktioner, billedmontager m.m. • Stort kammer til prøver op til 80 mm Ø eller 50 mm højde • Kompakt og mobil Gbodpezn Ih Aefx Af Djt • Dimensioner (hovedenhed): 324 mm B x 586 mm D x 566 mm H