Scanningselektronmikroskop (PC-SEM)Jeol
JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
Scanningselektronmikroskop (PC-SEM)
Jeol
JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
fast pris uden moms
35.000 €
Betingelse
Brugt
Beliggenhed
Borken 

Vis billeder
Vis kort
Oplysninger om maskinen
Pris og placering
fast pris uden moms
35.000 €
- Beliggenhed:
- Einsteinstraße 8a, 46325 Borken, DE
Ring
Detaljer om tilbuddet
- Noterings-id:
- A108-74957
- Referencenr.:
- 23543
- Sidst opdateret:
- d. 15.11.2024
Beskrivelse
Her tilbyder vi et Jeol rasterelektronmikroskop.
Jeol JSM-6490 Rasterelektronenmikroskop (PC-SEM)
Moderne, højtopløseligt, digitalt rasterelektronmikroskop med nyudviklet elektronoptik og intuitiv, grafisk brugerflade (GUI) under Microsoft WindowsXP Professional.
Forstørrelsesområde: 5 X - 300.000 X
Accelerationsspænding: 0,3 - 30 kV
Wolframtrådskathode (LaB6-kathode valgfrit)
Stor, fuldt motoriseret prøvestage med eucentrisk kippefunktion, inkl.
Grafisk navigation på prøveholderen
Enkel prøvenavigation via Click-Center-Zoom
Billedfeltstyret navigation via 2 navigatorer
Relativ koordinat-navigation
Lagring og genkaldelse af prøvepositioner
Justerbar billedfeltstyring af prøvestagen
Billedfeltkorrektion under rotation via computerstyret eucentrisk rotation
Billedfeltkorrektion under kipning via computerstyret eucentrisk kipning
Fgjdpfx Asmn Rcqsf Ieh
Beregning af mulig kipningsvinkel baseret på prøvegeometri
Automatisk fokusopfølgning ved bevægelse af prøven i Z-retning
Intelligente grænsekontakter for de motoriserede akser
Prøvestagens bevægelsesområde:
x = 125 mm
y = 100 mm
z = 5 til 80 mm (trinløs)
T = -10°C til +90°C
R = 360° (uendelig)
Sekundærelektrondetektor til højvakuumdrift
Ny superkonisk objektivlinse sikrer maksimal billedopløsning også ved store kippevinkler
Garanteret opløsning i SE-billede: 3 nm ved 30 kV og 15 nm ved 1 kV
Samtidig live-billedvisning fra flere detektorer
Enkel prøvenavigation via Click-Center-Zoom
Kraftfulde billedmålingsfunktioner
Filmfunktion til dynamisk procesoptagelse
Alsidig prøvekammer med mange udvidelsesmuligheder: fri flange f.eks. til EDX, WDX, EBSD, katodoluminescens osv.
Vedligeholdelsesfrit, lavt støjniveau pumpesystem bestående af forpumpe, vibrationsfri højtydende diffusionspumpe samt elektromagnetisk ventilstyring
Omfattende fejlsikring mod fejlbetjening og eksterne fejl
Ergonomisk, højdejusterbart systembord
SEM-starterkit bestående af 2 prøveholdere, værktøjssæt samt 6 reservekatoder
Ekstraudstyr:
2x ΜΡ-43100 (TMP)
Turbomolekylærpumpe i stedet for standard diffusionspumpe
Ved brug af turbomolekylærpumpe er der ikke længere behov for kølevand til SEM.
Yderligere udstyr:
PC til styring af SEM inkl. TFT-skærm
OX200 Bruker Quantax 200 EDX-system EXTENDED
Nitrogenfrit energidispersivt røntgen-analysesystem inkl.:
SDD-detektor med 127 eV eller bedre energiopløsning
Detektion af alle grundstoffer fra bor
Vibrationsfri, vedligeholdelsesfri. Peltier-kølet (nitrogenfri)
Pulsprocessor
TFT-skærm
Spektroskopi og elementidentifikation
Fuldt automatiseret, kvantitativ, standardfri grundstofanalyse
Billedopsamling
Lynhurtig kvalitativ LineScan
Lynhurtig kvalitativ element-mapping
Datamanagement- og arkiveringssystem
Rapportgenerering og resultatudtræk
Datakommunikation
Installation og instruktion
HyperMap
Multipoint-analyse
Bruker xFlash detektor (SDD) med signalbehandlingsenhed SVE III
Type: Jeol JSM-6490
Leveringsomfang: (Se billeder)
Stand: brugt/used
(Rettelser og fejl i de tekniske data forbeholdes!)
Yderligere spørgsmål besvares gerne telefonisk.
Annoncen blev oversat automatisk, og der kan forekomme nogle oversættelsesfejl.
Jeol JSM-6490 Rasterelektronenmikroskop (PC-SEM)
Moderne, højtopløseligt, digitalt rasterelektronmikroskop med nyudviklet elektronoptik og intuitiv, grafisk brugerflade (GUI) under Microsoft WindowsXP Professional.
Forstørrelsesområde: 5 X - 300.000 X
Accelerationsspænding: 0,3 - 30 kV
Wolframtrådskathode (LaB6-kathode valgfrit)
Stor, fuldt motoriseret prøvestage med eucentrisk kippefunktion, inkl.
Grafisk navigation på prøveholderen
Enkel prøvenavigation via Click-Center-Zoom
Billedfeltstyret navigation via 2 navigatorer
Relativ koordinat-navigation
Lagring og genkaldelse af prøvepositioner
Justerbar billedfeltstyring af prøvestagen
Billedfeltkorrektion under rotation via computerstyret eucentrisk rotation
Billedfeltkorrektion under kipning via computerstyret eucentrisk kipning
Fgjdpfx Asmn Rcqsf Ieh
Beregning af mulig kipningsvinkel baseret på prøvegeometri
Automatisk fokusopfølgning ved bevægelse af prøven i Z-retning
Intelligente grænsekontakter for de motoriserede akser
Prøvestagens bevægelsesområde:
x = 125 mm
y = 100 mm
z = 5 til 80 mm (trinløs)
T = -10°C til +90°C
R = 360° (uendelig)
Sekundærelektrondetektor til højvakuumdrift
Ny superkonisk objektivlinse sikrer maksimal billedopløsning også ved store kippevinkler
Garanteret opløsning i SE-billede: 3 nm ved 30 kV og 15 nm ved 1 kV
Samtidig live-billedvisning fra flere detektorer
Enkel prøvenavigation via Click-Center-Zoom
Kraftfulde billedmålingsfunktioner
Filmfunktion til dynamisk procesoptagelse
Alsidig prøvekammer med mange udvidelsesmuligheder: fri flange f.eks. til EDX, WDX, EBSD, katodoluminescens osv.
Vedligeholdelsesfrit, lavt støjniveau pumpesystem bestående af forpumpe, vibrationsfri højtydende diffusionspumpe samt elektromagnetisk ventilstyring
Omfattende fejlsikring mod fejlbetjening og eksterne fejl
Ergonomisk, højdejusterbart systembord
SEM-starterkit bestående af 2 prøveholdere, værktøjssæt samt 6 reservekatoder
Ekstraudstyr:
2x ΜΡ-43100 (TMP)
Turbomolekylærpumpe i stedet for standard diffusionspumpe
Ved brug af turbomolekylærpumpe er der ikke længere behov for kølevand til SEM.
Yderligere udstyr:
PC til styring af SEM inkl. TFT-skærm
OX200 Bruker Quantax 200 EDX-system EXTENDED
Nitrogenfrit energidispersivt røntgen-analysesystem inkl.:
SDD-detektor med 127 eV eller bedre energiopløsning
Detektion af alle grundstoffer fra bor
Vibrationsfri, vedligeholdelsesfri. Peltier-kølet (nitrogenfri)
Pulsprocessor
TFT-skærm
Spektroskopi og elementidentifikation
Fuldt automatiseret, kvantitativ, standardfri grundstofanalyse
Billedopsamling
Lynhurtig kvalitativ LineScan
Lynhurtig kvalitativ element-mapping
Datamanagement- og arkiveringssystem
Rapportgenerering og resultatudtræk
Datakommunikation
Installation og instruktion
HyperMap
Multipoint-analyse
Bruker xFlash detektor (SDD) med signalbehandlingsenhed SVE III
Type: Jeol JSM-6490
Leveringsomfang: (Se billeder)
Stand: brugt/used
(Rettelser og fejl i de tekniske data forbeholdes!)
Yderligere spørgsmål besvares gerne telefonisk.
Annoncen blev oversat automatisk, og der kan forekomme nogle oversættelsesfejl.
Udbyder
Bemærk: Registrer dig gratis eller log ind, for at få adgang til alle oplysninger.
Send anmodning
Telefon & Fax
+49 2861 ... annoncer
Din annonce er blevet slettet
Der opstod en fejl